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ET-2型電解測(cè)厚儀是結(jié)合國(guó)內(nèi)外*技術(shù)的金屬鍍層電解測(cè)厚儀，具有結(jié)構(gòu)良好，性能穩(wěn)定可靠，功能齊全的特點(diǎn)。

ET-1型微電腦多功能庫(kù)倫測(cè)厚儀是一代的金屬鍍層電解測(cè)厚儀。 電解測(cè)厚儀：是根據(jù)電化學(xué)中的庫(kù)侖定理（Q=nF）與現(xiàn)代微電腦技術(shù)結(jié)合的產(chǎn)物，具有結(jié)構(gòu)良好，性能穩(wěn)定可靠，功能齊全的特點(diǎn)。對(duì)多數(shù)非合金型金屬鍍層厚度的測(cè)定適用.

ET-3型微電腦多功能庫(kù)倫測(cè)厚儀是一代的金屬鍍層電解測(cè)厚儀，該儀器是根據(jù)電化學(xué)中的庫(kù)侖定理（Q=nF）與現(xiàn)代微電腦技術(shù)結(jié)合的產(chǎn)物。 庫(kù)倫測(cè)厚儀：具有結(jié)構(gòu)良好，性能穩(wěn)定可靠，功能齊全的特點(diǎn)。對(duì)多數(shù)非合金型金屬鍍層厚度的測(cè)定適用，是標(biāo)準(zhǔn)中*的一種鍍層測(cè)厚方法一庫(kù)侖法類儀器。

HQT-IC多層鎳庫(kù)侖法電解測(cè)厚儀 銅、鎳、鉻、鋅、銀、金、錫等鍍層。包括復(fù)合鍍2層或3層的每一層不同金屬鍍層的厚度也可測(cè)定.

UM-2超聲波測(cè)厚儀根據(jù)超聲波脈沖反射原理來(lái)進(jìn)行厚度測(cè)量的，當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測(cè)物體到達(dá)材料分界面時(shí)，脈沖被反射回探頭，通過精確測(cè)量超聲波在材料中傳播的時(shí)間來(lái)確定被測(cè)材料的厚度。

管材不透光率測(cè)定儀可用于測(cè)定塑料管材和管件的不透光性測(cè)定（顯示結(jié)果為百分比）。該儀器采用工業(yè)觸摸屏控制，觸摸屏操作。具有自動(dòng)分析、記錄、存儲(chǔ)、顯示的功能。該系列產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于科研機(jī)構(gòu)、大專院校、質(zhì)檢部門、生產(chǎn)企業(yè)。